ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，根據(jù)客戶的測(cè)試要求、圖紙及參考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC開發(fā)平臺(tái)，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary， Scan等技術(shù)開發(fā)、設(shè)計(jì)各類自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。系統(tǒng)全自動(dòng)依次采集并判定PASS/FAIL,自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)表并上傳數(shù)據(jù)庫(kù).
       隨著電子加工行業(yè)的蓬勃發(fā)展，ATE系統(tǒng)已經(jīng)在手機(jī)測(cè)試、IC測(cè)試、家電測(cè)試、電源測(cè)試、運(yùn)控測(cè)試、醫(yī)療器械測(cè)試、汽車電子測(cè)試等細(xì)分領(lǐng)域逐步應(yīng)用。