[敏感詞]由ICT測(cè)試設(shè)備廠家深圳市振華發(fā)測(cè)試儀器有限公司為大家分析ICT測(cè)試盲點(diǎn)的原因。?

1.當(dāng)電阻與跳線并聯(lián)時(shí)，無(wú)法測(cè)量電阻

2.無(wú)法測(cè)量與跳線并聯(lián)的電感（或變壓器，繼電器）。

3.電感的錯(cuò)誤部分是跳線或短路，無(wú)法測(cè)試。

4.小型電容器與小型電阻器并聯(lián)連接，無(wú)法測(cè)量小型電容器。

5.電感與電阻器或電容器及其他組件并聯(lián)連接。電阻或其他組件無(wú)法測(cè)量。

6.二極管以相同方向并聯(lián)連接，并且檢測(cè)不到缺失的部件之一或空焊。

7.不能測(cè)量與小電阻并聯(lián)組件并聯(lián)的組件。

8.電容器的電容太小，測(cè)試通常不準(zhǔn)確。

9. IC，晶體振蕩器，可調(diào)電阻器（VR），熱敏電阻，浪涌吸收器和其他組件的內(nèi)部性能無(wú)法測(cè)量或無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)試。

10.二極管和晶體管與大電容器并聯(lián)連接，無(wú)法測(cè)量二極管和晶體管。

11.組件的高低點(diǎn)在同一個(gè)短路組中，并且這些組件不可測(cè)試。

12.在IC空焊測(cè)試過(guò)程中，如果被測(cè)IC的引腳和電容器并聯(lián)連接，則該引腳如果斷開(kāi)則不能進(jìn)行測(cè)試。

13.小電容器與大電容器（C1 // C2）并聯(lián)連接，無(wú)法測(cè)量小電容器。一般來(lái)說(shuō)，C2的電容是C1的10倍以上。C1是不可預(yù)測(cè)的。