ict測(cè)試儀的作用
時(shí)間:2019-11-04| 作者:admin
1、可在幾秒鐘內(nèi)檢測(cè)組裝電路板部件:IC、FET、LED、電感、晶體管、普通二極體、電阻、電容、穩(wěn)壓二極體、光藕器等部件,是否符合規(guī)格要求。
2、可以提前發(fā)現(xiàn)不良工藝,如組件泄漏、反向、錯(cuò)件、氣焊、線路短路、斷路等不良問題,反饋給工藝改進(jìn)。
3、以上故障或不良信息可由打印機(jī)打印出測(cè)試結(jié)果,包括故障定位、零件標(biāo)準(zhǔn)值、測(cè)試值等,供維修人員參考,可有效降低人員對(duì)產(chǎn)品技術(shù)的依賴,不需要了解產(chǎn)品線,仍有維護(hù)能力。
4、可以測(cè)試不良信息統(tǒng)計(jì),生產(chǎn)管理人員進(jìn)行分析,可以找出各種不良原因,包括人為因素,以便解決、改進(jìn)、糾正,從而提高電路板制造和質(zhì)量的能力。



