ICT測(cè)試儀的發(fā)展歷程
時(shí)間：2019-01-14| 作者：admin
發(fā)展歷程
隨著時(shí)代的進(jìn)步，技術(shù)的革新，人類在電路板組裝（PCBA）過程中，如何提早在生產(chǎn)流程中發(fā)現(xiàn)品質(zhì)不良并分析解決，對(duì)于電子制造業(yè)而言可以降低損失，提高效率，于是產(chǎn)品的測(cè)試便成了電子制造流程中不可或缺的程序，因此ICT測(cè)試儀的技術(shù)也得到蓬勃發(fā)展。接下來就給大家簡(jiǎn)單介紹一下：
01、什么是ICT測(cè)試儀？
ICT測(cè)試儀是In Circuit Test 的縮寫，是一種電路板自動(dòng)檢測(cè)儀器，又稱為靜態(tài)測(cè)試儀（因它只輸入很小的電壓或電流來測(cè)試，不會(huì)損壞電路板），在線測(cè)試是一種不斷開電路，不拆下元器件的測(cè)試技術(shù)，主要的功能在測(cè)試電路板的短路、斷路及各種電子零件如電阻、電容、二極管、三極管、電晶體、IC…等零件是否錯(cuò)件、缺件、零件不良、裝配不良，并且明確指出缺陷的具體位置，可以幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì)，提高不良品檢修效率。
02、ICT測(cè)試儀的種類：
ICT測(cè)試儀一般依生產(chǎn)型態(tài)差別有離線型與在線型，通常ICT測(cè)試儀都需要依據(jù)產(chǎn)品尺寸、電子元件之位置訂制測(cè)試治具，而為了滿足樣品生產(chǎn)的短交期、少量多樣之彈性生產(chǎn)能力，還有飛針測(cè)試儀（優(yōu)點(diǎn)是免測(cè)試治具），其測(cè)試針可程式化移動(dòng)位置，但因測(cè)試工時(shí)及新程式之速度慢，故通常用于樣品之生產(chǎn)測(cè)試，而量產(chǎn)則直接使用ICT測(cè)試儀可使產(chǎn)能[敏感詞]化。
03、ICT測(cè)試儀的功能與作用
ICT測(cè)試儀如同一個(gè)功能強(qiáng)大的萬用表，能對(duì)電路板上的電子元件測(cè)試進(jìn)行有效的隔離，而萬用表不能實(shí)現(xiàn)。
ICT測(cè)試儀為靜態(tài)的測(cè)試（不通電），可針對(duì)電阻、電容、電感、二極管、三極管…常見之電子元件之規(guī)格、短路、斷路搭配各廠家之測(cè)試技術(shù)進(jìn)行測(cè)試判斷，除此之外，還能在測(cè)試過程過程對(duì)IC進(jìn)行資料燒錄。
04、ICT測(cè)試儀的用途
ICT測(cè)試儀使用于SMT制程的后端，通常是SMT線的后面（Reflow回流焊制程之后），經(jīng)過ICT測(cè)試儀之測(cè)試將SMT制程不良篩選出來，并且可提前警示出SMT生產(chǎn)良率是否有異常。
由于ICT測(cè)試儀需對(duì)電路板上不同位置的電子元件進(jìn)行測(cè)試，因此對(duì)應(yīng)不同產(chǎn)品必須制作不同ICT測(cè)試儀和測(cè)試治具來搭配，而測(cè)試治具因ICT測(cè)試儀廠牌、機(jī)型不同又有真空式、氣壓式之型式，一般使用不同規(guī)格數(shù)量的探針來接觸電路板或電子元件，所以電路板電子元件密度過高而無空間可布針時(shí)則可能無法使用ICT測(cè)試儀，因此ICT測(cè)試儀還是有使用之條件限制的。
隨著時(shí)代的進(jìn)步，技術(shù)的革新，人類在電路板組裝（PCBA）過程中，如何提早在生產(chǎn)流程中發(fā)現(xiàn)品質(zhì)不良并分析解決，對(duì)于電子制造業(yè)而言可以降低損失，提高效率，于是產(chǎn)品的測(cè)試便成了電子制造流程中不可或缺的程序，因此ICT測(cè)試儀的技術(shù)也得到蓬勃發(fā)展。接下來就給大家簡(jiǎn)單介紹一下：
01、什么是ICT測(cè)試儀？
ICT測(cè)試儀是In Circuit Test 的縮寫，是一種電路板自動(dòng)檢測(cè)儀器，又稱為靜態(tài)測(cè)試儀（因它只輸入很小的電壓或電流來測(cè)試，不會(huì)損壞電路板），在線測(cè)試是一種不斷開電路，不拆下元器件的測(cè)試技術(shù)，主要的功能在測(cè)試電路板的短路、斷路及各種電子零件如電阻、電容、二極管、三極管、電晶體、IC…等零件是否錯(cuò)件、缺件、零件不良、裝配不良，并且明確指出缺陷的具體位置，可以幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì)，提高不良品檢修效率。
02、ICT測(cè)試儀的種類：
ICT測(cè)試儀一般依生產(chǎn)型態(tài)差別有離線型與在線型，通常ICT測(cè)試儀都需要依據(jù)產(chǎn)品尺寸、電子元件之位置訂制測(cè)試治具，而為了滿足樣品生產(chǎn)的短交期、少量多樣之彈性生產(chǎn)能力，還有飛針測(cè)試儀（優(yōu)點(diǎn)是免測(cè)試治具），其測(cè)試針可程式化移動(dòng)位置，但因測(cè)試工時(shí)及新程式之速度慢，故通常用于樣品之生產(chǎn)測(cè)試，而量產(chǎn)則直接使用ICT測(cè)試儀可使產(chǎn)能[敏感詞]化。
03、ICT測(cè)試儀的功能與作用
ICT測(cè)試儀如同一個(gè)功能強(qiáng)大的萬用表，能對(duì)電路板上的電子元件測(cè)試進(jìn)行有效的隔離，而萬用表不能實(shí)現(xiàn)。
ICT測(cè)試儀為靜態(tài)的測(cè)試（不通電），可針對(duì)電阻、電容、電感、二極管、三極管…常見之電子元件之規(guī)格、短路、斷路搭配各廠家之測(cè)試技術(shù)進(jìn)行測(cè)試判斷，除此之外，還能在測(cè)試過程過程對(duì)IC進(jìn)行資料燒錄。
04、ICT測(cè)試儀的用途
ICT測(cè)試儀使用于SMT制程的后端，通常是SMT線的后面（Reflow回流焊制程之后），經(jīng)過ICT測(cè)試儀之測(cè)試將SMT制程不良篩選出來，并且可提前警示出SMT生產(chǎn)良率是否有異常。
由于ICT測(cè)試儀需對(duì)電路板上不同位置的電子元件進(jìn)行測(cè)試，因此對(duì)應(yīng)不同產(chǎn)品必須制作不同ICT測(cè)試儀和測(cè)試治具來搭配，而測(cè)試治具因ICT測(cè)試儀廠牌、機(jī)型不同又有真空式、氣壓式之型式，一般使用不同規(guī)格數(shù)量的探針來接觸電路板或電子元件，所以電路板電子元件密度過高而無空間可布針時(shí)則可能無法使用ICT測(cè)試儀，因此ICT測(cè)試儀還是有使用之條件限制的。
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